Caractérisation des pièges dans les transistors organiques - Université de technologie de Troyes Access content directly
Conference Poster Year : 2019
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Dates and versions

hal-02427911 , version 1 (04-01-2020)

Identifiers

  • HAL Id : hal-02427911 , version 1

Cite

Ndèye Saly, Olivier Simonetti, Thien-Phap Nguyen, Pierre-Michel Adam, Louis Giraudet. Caractérisation des pièges dans les transistors organiques. Science et Technologie des Systèmes pi-Conjugués (SPIC), Oct 2019, Arras, France. ⟨hal-02427911⟩
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