Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction - Université de technologie de Troyes
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction

Fabien Lefebvre
  • Fonction : Auteur
Centre technique des industries mécaniques [Cetim, France]
Eric Wasniewski
  • Fonction : Auteur
Centre technique des industries mécaniques [Cetim, France]
Thierry Bergey
  • Fonction : Auteur
ArianeGroup
A. Roth
  • Fonction : Auteur
Manuel François
Laboratoire des Systèmes Mécaniques et d'Ingénierie Simultanée
Patrick Allain
  • Fonction : Auteur
P. Le-Bec
  • Fonction : Auteur
Matériaux et Mécanique des Composants
C. Fisher
  • Fonction : Auteur
Sophie Berveiller
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 881773
Laboratoire d'Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux
Laurence Besnauld
  • Fonction : Auteur
L. Mermillod-Blondin
  • Fonction : Auteur
Yann Cheynet
  • Fonction : Auteur
Renaud Frappier
  • Fonction : Auteur
Guillaume Geandier
Institut Jean Lamour
Marie-José Moya
  • Fonction : Auteur
F. Savrot
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://utt.hal.science/hal-02615055

Soumis le : vendredi 22 mai 2020-09:14:06

Dernière modification le : mardi 8 octobre 2024-12:38:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02615055 , version 1 (22-05-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02615055 , version 1

Citer

Fabien Lefebvre, Eric Wasniewski, Thierry Bergey, A. Roth, Manuel François, et al.. Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction. 10th European Conference on Residual Stresses, ECRS-10, Sep 2018, Leuven, Belgium. ⟨hal-02615055⟩

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